隨著元器件檢測(cè)行業(yè)的不斷發(fā)展，芯片檢測(cè)公司也如雨后春筍般涌出，無(wú)錫冠亞芯片檢測(cè)公司為了針對(duì)芯片測(cè)試也推出來(lái)元器件測(cè)試設(shè)備，促進(jìn)芯片行業(yè)更加有效的發(fā)展。

　　芯片檢測(cè)公司的測(cè)試向量是存儲(chǔ)在向量存儲(chǔ)器里面的，每行單獨(dú)的向量代表一個(gè)單一測(cè)試周期的原始數(shù)據(jù)。從向量存儲(chǔ)器里輸入的數(shù)據(jù)與時(shí)序，波形格式以及電壓數(shù)據(jù)結(jié)合在一起，通過(guò)IC電路施加給待測(cè)器件。待測(cè)器件的輸出通過(guò)比較電路在適當(dāng)?shù)牟蓸訒r(shí)間與存儲(chǔ)在向量存儲(chǔ)器里的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。這種測(cè)試被稱作存儲(chǔ)響應(yīng)。除了待測(cè)器件的輸入輸出數(shù)據(jù)，測(cè)試向量還可能包含測(cè)試系統(tǒng)的一些運(yùn)作指令。比如說(shuō)，要包含時(shí)序信息等，因?yàn)闀r(shí)序或者波形格式等可能需要在周期之間實(shí)時(shí)切換。輸入驅(qū)動(dòng)器可能需要被打開或者關(guān)閉，輸出比較器也可能需要選擇性地在周期之間開關(guān)。許多測(cè)試系統(tǒng)還支持像跳轉(zhuǎn)，循環(huán)，向量重復(fù)，子程序等微操作指令。不同的測(cè)試儀，其測(cè)試儀指令的表示方式可能會(huì)不一樣，這也是當(dāng)把測(cè)試程序從一個(gè)測(cè)試平臺(tái)轉(zhuǎn)移到另一個(gè)測(cè)試平臺(tái)時(shí)需要做向量轉(zhuǎn)換的原因之一。

　　比較復(fù)雜的芯片，其芯片檢測(cè)公司測(cè)試向量一般是由芯片設(shè)計(jì)過(guò)程中的仿真數(shù)據(jù)提取而來(lái)。仿真數(shù)據(jù)需要重新整理以滿足目標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)的格式，同時(shí)還需要做一些處理以保證正確的運(yùn)行。通常來(lái)說(shuō)測(cè)試向量并不是由上百萬(wàn)行的獨(dú)立向量簡(jiǎn)單構(gòu)成的。測(cè)試向量或者仿真數(shù)據(jù)可以由設(shè)計(jì)工程師，測(cè)試工程師或者驗(yàn)證工程師來(lái)完成，但是要保證成功的向量生成，都必須對(duì)芯片本身和測(cè)試系統(tǒng)有非常全面地了解。當(dāng)功能測(cè)試執(zhí)行的時(shí)候，測(cè)試系統(tǒng)把輸入波形施加給待測(cè)器件，并一個(gè)周期，一個(gè)管腳地監(jiān)控輸出數(shù)據(jù)。如果有任何的輸出數(shù)據(jù)不符合預(yù)期的邏輯狀態(tài)，電壓或者時(shí)序，該測(cè)試結(jié)果被記錄為錯(cuò)誤。

　　芯片檢測(cè)公司推出的各種測(cè)試設(shè)備更加有利于芯片行業(yè)的發(fā)展，當(dāng)然，用戶選擇的時(shí)候也需要選擇靠譜的芯片檢測(cè)公司為好。（本文來(lái)源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系刪除，謝謝。）